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전자현미경(FE-SEM)을 이용한 미세영역 표면&단면 관찰·해석
• Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) has strong electron source coupled with smaller beam size than a typical SEM.
• Imaging Analysis : 최첨단 기술을 사용하여 샘플 이미지의 더 높은 배율을 확보하여 나노미터 규모까지 정확한 시각 및 측정을 수행합니다.
• Surface Analysis : 우리는 표면의 원소, 분자 및 화학적 상태를 결정하기 위해 고체 물질의 가장 바깥쪽 층에 초점을 맞춘 분석 테스트를 수행합니다.
Categories : Analysis Techniques, Failure Analysis, Metallurgy Analysis
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장비 Opation
- EDS : 시료의 화학조성을 분석하기 위한 검출기로, 전자빔 조사에 따른 특정 X선(물질마다 고유한 에너지 값) 방출, 수집하여 X선 세기 별로 분류하여 샘플에 대한 정성분석을 수행.
- BSE,
- ATLAS
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Application
- Ideal microscopic imaging for polymer and thin films.
- Fine corrosion evaluations.
- Micro-structure studies best suitable for R&D
- Detail specimen features' characterization.
- Surface contamination elemental analysis
- Material analysis for component layers
- FA on PCB